一种脉冲X射线曝光时间测量模块及系统
授权
摘要
本实用新型提供了一种脉冲X射线曝光时间测量模块，脉冲X射线曝光时间测量模块包括脉冲时间测量单元和信号处理单元；脉冲时间测量单元，探测射线束中心出射的X射线，并将X射线转换为光信号，将光信号转换为电流信号；信号处理单元，与脉冲时间测量单元相连接，对电流信号进行处理，得到模拟信号，以通过模拟信号得到X射线的曝光时间。
基本信息
专利标题 ：
一种脉冲X射线曝光时间测量模块及系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202220116534.0
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2022-01-17
授权号 ：
CN216752193U
授权日 ：
2022-06-14
发明人 ：
李德红张健张晓乐黄建微成建波张璇刘川凤
申请人 ：
中国计量科学研究院
申请人地址 ：
北京市朝阳区北三环东路18号
代理机构 ：
北京慧诚智道知识产权代理事务所(特殊普通合伙)
代理人 ：
高梅
优先权 ：
CN202220116534.0
主分类号 ：
H05G1/28
IPC分类号 ：
H05G1/28
法律状态
2022-06-14 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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