一种曲面扫描测量装置及其扫描测量方法
公开
摘要
本发明公开一种曲面扫描测量装置，包括支撑座、直线移动架、柔性铰链、扫描传感器、直线驱动机构和控制模块，直线移动架通过柔性铰链设于支撑座上，扫描传感器设于直线移动架上且伸出至支撑座外，用于测量相对被测曲面的位置，支撑座与直线移动架间设有用于测量直线移动架位移量的测量机构，直线驱动机构设于支撑座与直线移动架之间，用于驱动直线移动架移动以使扫描传感器相对被测曲面位置保持在设定值范围内，扫描传感器、直线驱动机构和测量机构与控制模块信号连接。还公开了一种曲面扫描测量方法，包括步骤：初始位置调节；运动过程调节；获得曲面表面信息。本曲面扫描测量装置结构简单、精度高且量程大。本曲面扫描测量方法精度高且量程大。
基本信息
专利标题 ：
一种曲面扫描测量装置及其扫描测量方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114608471A
申请号 ：
CN202210100714.4
公开（公告）日 ：
2022-06-10
申请日 ：
2022-01-27
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
尹自强翁川柴宁邓海深杨义军
申请人 ：
广东工业大学
申请人地址 ：
广东省广州市东风东路729号
代理机构 ：
湖南兆弘专利事务所(普通合伙)
代理人 ：
陈魁
优先权 ：
CN202210100714.4
主分类号 ：
G01B11/24
IPC分类号 ：
G01B11/24
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/00
以采用光学方法为特征的计量设备
G01B11/24
用于计量轮廓或曲率
法律状态
2022-06-10 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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