离双折射光纤拍长测量方法及装置
专利权的终止未缴年费专利权终止
摘要
本发明属于利用光电子方法测量光纤性能的技术领域。本发明是利用高双折射光纤的法拉第效应实现对高双折射光纤拍长测量的一种新方案，其主要优点是可不需破坏高双折射光纤的保护层进行无损检测、分辨率高、测量速度快，测量结果不受光纤摆放状态影响，并适于低耗高双折射光纤测量，可测出拍长沿光纤长度的分布。
基本信息
专利标题 ：
离双折射光纤拍长测量方法及装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN1034808A
申请号 ：
CN87107406.0
公开（公告）日 ：
1989-08-16
申请日 ：
1987-12-17
授权号 ：
CN1008661B
授权日 ：
1990-07-04
发明人 ：
廖延彪陈国霖吴庚生
申请人 ：
清华大学
申请人地址 ：
北京市海淀区清华园
代理机构 ：
清华大学专利事务所
代理人 ：
胡兰芝
优先权 ：
CN87107406.0
主分类号 ：
G01N21/00
IPC分类号 ：
G01N21/00
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
法律状态
1995-02-08 ：
专利权的终止未缴年费专利权终止
1995-02-01 ：
专利权的终止未缴年费专利权终止
1991-01-23 ：
授权
1990-07-04 ：
审定
1989-08-16 ：
公开
1988-06-08 ：
实质审查请求
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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