聚合物薄膜等的双折射测量
专利权的终止
摘要
提供用于确定诸如聚合物薄膜的光学材料的双折射等级的方法。在一个实施例中，该方法利用具有已知的系统参考角度的光学组件的装置。样品(136)可以是快轴角度在样品(136)中具有预定定向的拉伸的聚合物薄膜。系统(120)被操作以将样品(136)的快轴方向对准该系统的参考角度，并且在样品(136)的一个位置处测量双折射等级。作为本发明的一个方面，描述了用于在非常宽的范围且高达数万纳米上精确地确定双折射等级的实施例和方法。
基本信息
专利标题 ：
聚合物薄膜等的双折射测量
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN101076714A
申请号 ：
CN200580036436.5
公开（公告）日 ：
2007-11-21
申请日 ：
2005-10-24
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
王宝良
申请人 ：
海因兹仪器公司
申请人地址 ：
美国俄勒冈州
代理机构 ：
中原信达知识产权代理有限责任公司
代理人 ：
郑立
优先权 ：
CN200580036436.5
主分类号 ：
G01J4/00
IPC分类号 ：
G01J4/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01J
红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分，偏振、相位或脉冲特性的测量；比色法；辐射高温测定法
G01J4/00
测量光的偏振
法律状态
2018-10-16 ：
专利权的终止
未缴年费专利权终止IPC(主分类) : G01J 4/00
申请日 : 20051024
授权公告日 : 20120111
终止日期 : 20171024
申请日 : 20051024
授权公告日 : 20120111
终止日期 : 20171024
2012-01-11 ：
授权
2008-01-16 ：
实质审查的生效
2007-11-21 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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