本实用新型公开了一种大量程成像式双折射分布测量装置，该测量装置包括：光源模块，其接收控制与数据处理模块信号，选择并输出测量所用波长的光束，透射照明被测材料样品；成像镜组，其将经被测材料样品的出射光束投影到光电探测器上；可变偏振态发生器，其位于被测材料样品两侧的光路中，根据控制与数据处理模块输入的电信号，改变光束的偏振态，提供光束的起偏、检偏或相位延迟；光电探测器，其将采集的光强分布转化为电信号输出给控制与数据处理模块运算，最终呈现被测物双折射分布结果。本实用新型解决了现有双折射分布测量技术存在的测量速度相对较慢、相位延迟量量程受限的问题。