确定磁性粒子空间分布的方法
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摘要
本发明涉及一种确定检查区中磁性粒子空间分布的方法，其中产生具有较低磁场强度的第一子区和较高磁场强度的第二子区的磁场。改变两个子区的位置，从而引起检查区中粒子磁化强度的改变。获取基于检查区中磁化强度的测量值。参考响应函数可以通过至少一个大范围磁性样本分布来确定，利用该函数可以根据磁性粒子的空间分布在数学上确定测量值。最后，利用参考响应函数从测量值对磁性粒子空间分布进行重构。
基本信息
专利标题 ：
确定磁性粒子空间分布的方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN101080196A
申请号 ：
CN200580043348.8
公开（公告）日 ：
2007-11-28
申请日 ：
2005-12-06
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
B·格莱克J·韦泽尼克T·尼尔森
申请人 ：
皇家飞利浦电子股份有限公司
申请人地址 ：
荷兰艾恩德霍芬
代理机构 ：
中国专利代理(香港)有限公司
代理人 ：
龚海军
优先权 ：
CN200580043348.8
主分类号 ：
A61B5/05
IPC分类号 ：
A61B5/05
相关图片
IPC结构图谱
A
A部——人类生活必需
A61
医学或兽医学；卫生学
A61B
诊断；外科；鉴定
A61B5/05
用电流或磁场的方式来诊断探测、测量或记录；利用微波或无线电波测量
法律状态
2010-05-12 ：
授权
2008-02-13 ：
实质审查的生效
2007-11-28 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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