粒子尺寸分布测量仪
专利申请的视为撤回
摘要
一种在结构上能测量过大尺寸粒子的粒子尺寸分布测量仪。
基本信息
专利标题 ：
粒子尺寸分布测量仪
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN1059792A
申请号 ：
CN91105283.6
公开（公告）日 ：
1992-03-25
申请日 ：
1991-06-29
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
丹羽猛
申请人 ：
株式会社岛津制作所
申请人地址 ：
日本京都
代理机构 ：
中国国际贸易促进委员会专利代理部
代理人 ：
乔晓东
优先权 ：
CN91105283.6
主分类号 ：
G01N15/02
IPC分类号 ：
G01N15/02
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N15/00
测试颗粒的特性；测试多孔材料的渗透性，孔隙体积或者孔隙表面积
G01N15/02
测试颗粒的粒度或粒经分布
法律状态
1994-06-22 ：
专利申请的视为撤回
1992-03-25 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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