大尺寸同轴度测量仪
授权
摘要
大尺寸同轴度测量仪，是一种测量大尺寸形体的同轴度误差的专用仪器。它克服了以往大尺寸同轴度测量用三坐标测量仪测量时成本高、对特大形工件不能测量的缺点。它用一个架在调节装置上的测杆绕轴线转动时测量相对半径差并测量不同的截面后，计算出同轴度误差。
基本信息
专利标题 ：
大尺寸同轴度测量仪
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN86200163.3
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
1986-01-20
授权号 ：
CN86200163U
授权日 ：
1986-09-03
发明人 ：
郭振英庞瑞华范莹莹刘巽尔
申请人 ：
北京工业学院
申请人地址 ：
北京市海淀区白石桥路7号
代理机构 ：
北京工业学院专利代理事务所
代理人 ：
杨志兵
优先权 ：
CN86200163.3
主分类号 ：
G01B5/25
IPC分类号 ：
G01B5/25 G01B5/08
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B5/25
••用于检测轴线准直
法律状态
1987-03-18 ：
授权
1986-09-03 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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