确定磁性粒子的空间分布的方法
授权
摘要

本发明涉及确定检查区域中的磁性粒子的空间分布的方法,在所述检查区域中,生成一磁场,其包括具有相对较低的磁场强度的第一局部区域以及具有相对较高的磁场强度的第二局部区域。改变两个局部区域的空间位置,因此,检查区域中的磁化强度发生改变,记录取决于磁化强度的改变的实际测量值。然后,确定依赖于磁性粒子的空间分布的相关分布,以使得包括以下值作为被加数的总和最小化:a)所述实际测量值与虚构测量值的差,其中所述虚构测量值是通过将转移函数应用到相关分布而确定的,以及b)正则参数和正则值的乘积,其中,所述正则值是通过将正则函数应用到相关分布而确定的。最后,利用所确定的相关分布来确定磁性粒子的空间分布。

基本信息
专利标题 :
确定磁性粒子的空间分布的方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN101180655A
申请号 :
CN200580042800.9
公开(公告)日 :
2008-05-14
申请日 :
2005-12-05
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
T·尼尔森B·格莱希J·魏岑埃克
申请人 :
皇家飞利浦电子股份有限公司
申请人地址 :
荷兰艾恩德霍芬
代理机构 :
永新专利商标代理有限公司
代理人 :
王英
优先权 :
CN200580042800.9
主分类号 :
G06T11/00
IPC分类号 :
G06T11/00  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算;推算或计数
G06T
一般的图像数据处理或产生
G06T11/00
2D图像的生成
法律状态
2009-08-12 :
授权
2008-07-02 :
实质审查的生效
2008-05-14 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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