光纤测量粒子直径的方法及设备
专利权的终止未缴年费专利权终止
摘要
本发明是关于光纤测量大量粒子直径及分布的方法及所用设备。把通过光纤探头内的若干根光纤传输的光信号直接发射到被测粒子上，再由经过光纤探头上设置的光纤接收装置内的光纤把信号传送到光电转换元件，再经处理，由计算机采集并计算出粒子运动速度、方向及直径，特别是能精确、快速地测量大于20μm以上的液滴、油滴、小颗粒、呈球形的粉末直径，可以测量容器内不同位置粒子直径及分布，结构简单、加工装配容易，操作方便，省工省力，成本低。
基本信息
专利标题 ：
光纤测量粒子直径的方法及设备
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN1045861A
申请号 ：
CN90102821.5
公开（公告）日 ：
1990-10-03
申请日 ：
1990-03-17
授权号 ：
CN1015405B
授权日 ：
1992-02-05
发明人 ：
贾志军裘元焘
申请人 ：
江南大学
申请人地址 ：
214063江苏省无锡市江南大学
代理机构 ：
无锡市专利事务所
代理人 ：
曾丹
优先权 ：
CN90102821.5
主分类号 ：
G01N15/02
IPC分类号 ：
G01N15/02
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N15/00
测试颗粒的特性；测试多孔材料的渗透性，孔隙体积或者孔隙表面积
G01N15/02
测试颗粒的粒度或粒经分布
法律状态
1995-05-10 ：
专利权的终止未缴年费专利权终止
1992-09-23 ：
授权
1992-02-05 ：
审定
1990-10-03 ：
公开
1990-09-05 ：
实质审查请求
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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