一种铁粉颗粒密度测量装置
授权
摘要
本实用新型公开了一种铁粉颗粒密度测量装置，包括机座，机座水平放置，机座的顶面安装有用于放置粉料的放置板，机座的顶面还安装有机架，机架设置在机座顶面的一边，机架顶端安装有向放置板顶面中心水平伸出的连接臂，连接臂的末端安装有激光测量模块，激光测量模块用于扫描收集粉料图像信息，机座内安装有计算处理模块，计算处理模块与激光测量模块电连接，计算处理模块用于根据采集到的粉料图像信息计算粉料中颗粒的最大直径、最小直径、平均直径等各项参数，机座的顶面安装有显示模块，计算处理模块与显示模块电连接。
基本信息
专利标题 ：
一种铁粉颗粒密度测量装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202020252133.9
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-03-04
授权号 ：
CN212228653U
授权日 ：
2020-12-25
发明人 ：
吴学龙
申请人 ：
东莞市龙跃永磁科技有限公司
申请人地址 ：
广东省东莞市望牛墩镇五涌工业区
代理机构 ：
北京卓恒知识产权代理事务所(特殊普通合伙)
代理人 ：
李迪
优先权 ：
CN202020252133.9
主分类号 ：
G01N9/24
IPC分类号 ：
G01N9/24 G01N15/02 G01N15/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N9/00
测试材料的密度或比重；通过测定密度或比重以分析材料
G01N9/24
通过观察穿过材料的波的传播或粒子辐射
法律状态
2020-12-25 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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