高频测定用探针以及高频特性测定装置
授权
摘要

本实用新型构成特性阻抗实质上不依赖于电路基板的被测定点的信号电极与接地电极的间隔的高频测定用探针以及使用了该高频测定用探针的高频特性测定装置。高频测定用探针(101)具备:第1基板(10),具有第1接地导体(12)和与该第1接地导体导通的接地探针(1);第2基板(20),具有传输线路和信号探针(3),传输线路由信号导体和第2接地导体构成,信号探针与信号导体导通,并在与接地探针相同的方向上延伸;以及基板保持机构,保持第1基板和第2基板,使得能够在使第1接地导体和第2接地导体电导通的状态下对第1方向上的相对位置关系进行调整,第1方向是相对于接地探针以及信号探针的延伸方向的正交方向。

基本信息
专利标题 :
高频测定用探针以及高频特性测定装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202020783387.3
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-05-12
授权号 :
CN212586433U
授权日 :
2021-02-23
发明人 :
富桝胜仁冈本文太何志刚
申请人 :
株式会社村田制作所
申请人地址 :
日本京都府
代理机构 :
中科专利商标代理有限责任公司
代理人 :
朴云龙
优先权 :
CN202020783387.3
主分类号 :
G01R1/067
IPC分类号 :
G01R1/067  G01R31/28  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R1/00
包括在G01R5/00至G01R13/00或G01R31/00组中的各类仪器或装置的零部件
G01R1/02
一般结构零部件
G01R1/06
测量引线;测量探针
G01R1/067
测量探针
法律状态
2021-02-23 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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