测定用探针
授权
摘要
本实用新型实现特性阻抗实质上不依赖于电路基板的被测定点的信号电极与接地电极的间隔的测定用探针。测定用探针(103)具备：信号探针(S1)，在第1方向(Z轴方向)上延伸；接地探针(G0)，在所述第1方向上延伸；以及匹配用导体(MC)，所述匹配用导体(MC)在与所述第1方向正交的平面方向(+X轴方向)上比所述接地探针(G0)靠近所述信号探针(S1)进行配置，使得由所述信号探针(S1)和所述匹配用导体(MC)构成的线路的特性阻抗成为给定的值，所述信号探针(S1)的前端部(ST)与被检测体的信号电极抵接，所述接地探针(G0)的前端部(GT)与所述被检测体的接地电极抵接。
基本信息
专利标题 ：
测定用探针
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202020831166.9
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-05-18
授权号 ：
CN212674984U
授权日 ：
2021-03-09
发明人 ：
富桝胜仁冈本文太
申请人 ：
株式会社村田制作所
申请人地址 ：
日本京都府
代理机构 ：
中科专利商标代理有限责任公司
代理人 ：
朴云龙
优先权 ：
CN202020831166.9
主分类号 ：
G01R1/067
IPC分类号 ：
G01R1/067 G01R1/073
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R1/00
包括在G01R5/00至G01R13/00或G01R31/00组中的各类仪器或装置的零部件
G01R1/02
一般结构零部件
G01R1/06
测量引线；测量探针
G01R1/067
测量探针
法律状态
2021-03-09 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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