算法模块测试方法及装置
实质审查的生效
摘要
本发明提供一种算法模块测试方法,包括:获取待测模块的多组测试向量,所述待测模块的每个功能至少对应一组所述测试向量,其中,每组测试向量包含多个参数;依据所述多组测试向量,对所述待测模块的多个功能进行定向测试;当所述待测模块的至少一个功能定向测试通过时,对所述待测模块的每个参数依据对应的约束进行随机取值;采用每个参数的随机取值对所述待测模块进行随机测试。本发明提供的算法模块测试方法及装置,能够以定向测试的方式首先定向验证功能的正确性,再以随机测试测试的方式来覆盖包括边界情况在内的多种场景或者组合场景,有利于对算法模块验证的完备性和全面性进行提高。
基本信息
专利标题 :
算法模块测试方法及装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114356684A
申请号 :
CN202111681095.4
公开(公告)日 :
2022-04-15
申请日 :
2021-12-31
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
张银婷张旭峰何向东杨茜刘香利
申请人 :
西安紫光展锐科技有限公司
申请人地址 :
陕西省西安市高新区鱼化街办软件新城天谷八路528号国家电子商务示范基地东区301室
代理机构 :
北京兰亭信通知识产权代理有限公司
代理人 :
苑晨超
优先权 :
CN202111681095.4
主分类号 :
G06F11/26
IPC分类号 :
G06F11/26
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算;推算或计数
G06F
电数字数据处理
G06F11/00
错误检测;错误校正;监控
G06F11/22
在准备运算或者在空闲时间期间内,通过测试作故障硬件的检测或定位
G06F11/26
功能检验
法律状态
2022-05-03 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G06F 11/26
申请日 : 20211231
申请日 : 20211231
2022-04-15 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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