单粒子效应仿真方法及装置
公开
摘要
本公开提供一种单粒子效应仿真方法及装置。包括：提供触发器，触发器的输入端口接收输入信号，触发器的时钟端口接收时钟信号，使触发器处于正常工作状态，其中，触发器包括主级锁存器和从级锁存器；在测试时段内，在触发器的第一测试点施加测试信号；获取输出信号，分析判断单粒子效应的仿真结果。本公开利用电路仿真软件，通过向电路中的测试点施加信号激励模拟单粒子效应的行为，找到单粒子效应对电路的影响，实现对单粒子效应的验证，仿真步骤简单，可以大大减小仿真时间，提高仿真效率。
基本信息
专利标题 ：
单粒子效应仿真方法及装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114611444A
申请号 ：
CN202210208686.8
公开（公告）日 ：
2022-06-10
申请日 ：
2022-03-03
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
张雪亮
申请人 ：
长鑫存储技术有限公司
申请人地址 ：
安徽省合肥市经济开发区空港工业园兴业大道388号
代理机构 ：
北京同立钧成知识产权代理有限公司
代理人 ：
张芳
优先权 ：
CN202210208686.8
主分类号 ：
G06F30/3308
IPC分类号 ：
G06F30/3308
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算；推算或计数
G06F
电数字数据处理
G06F30/3308
使用模拟
法律状态
2022-06-10 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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