基于磁滞效应的无磁场点磁纳米粒子成像方法
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摘要
本发明公开了一种基于磁滞效应的无磁场点磁纳米粒子成像方法，包括以下步骤：获取超顺磁纳米粒子(Superparamagnetic Iron Oxide Nanoparticles，SPIO)的磁滞回线模型；基于正弦激励磁场和SPIO的磁滞回线模型，计算得到SPIO的点扩散函数(Point Spread Function，PSF)；基于无磁场点(Field Free Point，FFP)移动轨迹与电压信号，获取无磁场点磁纳米粒子成像(Field Free Point‑Magnetic Particle Imaging，FFP‑MPI)的原始重建图像；将原始图像对已考虑磁滞效应的PSF解卷积，获得最终重建图像。该方法减少了大粒径SPIO的磁滞效应对图像重建产生的伪影与相位误差，弥补了传统重建方法忽略磁滞效应进行重建的不足，极大提高重建速度与分辨率，拓宽了SPIO的应用范围。
基本信息
专利标题 ：
基于磁滞效应的无磁场点磁纳米粒子成像方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN113558597A
申请号 ：
CN202110824615.6
公开（公告）日 ：
2021-10-29
申请日 ：
2021-07-21
授权号 ：
CN113558597B
授权日 ：
2022-05-03
发明人 ：
田捷李怡濛惠辉张鹏杨鑫
申请人 ：
北京航空航天大学
申请人地址 ：
北京市海淀区学院路37号
代理机构 ：
北京天汇航智知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
黄川
优先权 ：
CN202110824615.6
主分类号 ：
A61B5/0515
IPC分类号 ：
A61B5/0515
IPC结构图谱
A
A部——人类生活必需
A61
医学或兽医学；卫生学
A61B
诊断；外科；鉴定
A61B5/0515
磁性粒子成像
法律状态
2022-05-03 ：
授权
2021-11-16 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : A61B 5/0515
申请日 : 20210721
申请日 : 20210721
2021-10-29 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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