基于非理想无磁场点的磁纳米粒子成像方法
授权
摘要
本发明涉及一种基于非理想无磁场点(FFP)的磁纳米粒子成像方法，该方法基于非理想FFP的磁场条件，分析非理想FFP区域的SPIOs的响应以及检测线圈的电压信号特征，通过获取等效理想FFP电压信号与等效FFP移动速度，求解图像值从而得到重建结果。该方法减少了因为实际MPI仪器中FFP不是理想无磁场区域对图像重建产生的伪影与相位误差，弥补了传统重建方法忽略实际非理想FFP情况进行重建的不足，极大提高重建质量与分辨率。
基本信息
专利标题 ：
基于非理想无磁场点的磁纳米粒子成像方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN113534025A
申请号 ：
CN202110824213.6
公开（公告）日 ：
2021-10-22
申请日 ：
2021-07-21
授权号 ：
CN113534025B
授权日 ：
2022-06-14
发明人 ：
田捷李怡濛惠辉张鹏杨鑫
申请人 ：
北京航空航天大学
申请人地址 ：
北京市海淀区学院路37号
代理机构 ：
北京天汇航智知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
黄川
优先权 ：
CN202110824213.6
主分类号 ：
G01R33/12
IPC分类号 ：
G01R33/12
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R33/00
测量磁变量的装置或仪器
G01R33/12
测量物品的磁性或者固体或流体样品的磁性
法律状态
2022-06-14 ：
授权
2022-05-13 ：
著录事项变更
IPC(主分类) : A61B 5/0515
变更事项 : 发明人
变更前 : 田捷 李怡濛 惠辉 张鹏 杨鑫
变更后 : 田捷 李怡濛 惠辉 张鹏
变更事项 : 发明人
变更前 : 田捷 李怡濛 惠辉 张鹏 杨鑫
变更后 : 田捷 李怡濛 惠辉 张鹏
2021-11-09 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01R 33/12
申请日 : 20210721
申请日 : 20210721
2021-10-22 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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