粒子检测装置、信息处理装置、信息处理方法和粒子检测方法
公开
摘要
一种粒子检测装置，包括：多个光学检测器，被配置为检测来自粒子的光，其中至少一个光学检测器具有不同于其他光学检测器的施加电压系数；以及处理器，包括处理设备和存储指令的存储器，指令在由处理设备执行时使处理器：根据多个光学检测器的施加电压系数与预定施加电压系数之间的差来校正从粒子获得的光学数据。
基本信息
专利标题 ：
粒子检测装置、信息处理装置、信息处理方法和粒子检测方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114585905A
申请号 ：
CN202080069112.6
公开（公告）日 ：
2022-06-03
申请日 ：
2020-10-07
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
田原克俊
申请人 ：
索尼集团公司
申请人地址 ：
日本东京
代理机构 ：
北京康信知识产权代理有限责任公司
代理人 ：
沈丹阳
优先权 ：
CN202080069112.6
主分类号 ：
G01N15/14
IPC分类号 ：
G01N15/14 G01N21/64
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N15/00
测试颗粒的特性；测试多孔材料的渗透性，孔隙体积或者孔隙表面积
G01N15/10
测试单个颗粒
G01N15/14
电光测试
法律状态
2022-06-03 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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