粒子检测传感器以及粒子检测装置
实质审查的生效
摘要
使粒子检测传感器小型化。检测机构(6)具备：光源(613)，其设置于基板(4)；聚光透镜(621)，其设置于从光源发出的光与基板之间；以及光检测器(622)，其在聚光透镜的下侧设置于基板。
基本信息
专利标题 ：
粒子检测传感器以及粒子检测装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114324089A
申请号 ：
CN202111136501.9
公开（公告）日 ：
2022-04-12
申请日 ：
2021-09-27
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
成濑大贵藤山利也佐佐部博一增田佳史冈见光敏竹内昇
申请人 ：
夏普半导体创新株式会社
申请人地址 ：
日本奈良县天理市栎木町2613番地1
代理机构 ：
深圳市赛恩倍吉知识产权代理有限公司
代理人 ：
叶乙梅
优先权 ：
CN202111136501.9
主分类号 ：
G01N15/06
IPC分类号 ：
G01N15/06
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N15/00
测试颗粒的特性；测试多孔材料的渗透性，孔隙体积或者孔隙表面积
G01N15/06
测试悬浮颗粒的浓度
法律状态
2022-04-29 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01N 15/06
申请日 : 20210927
申请日 : 20210927
2022-04-12 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载
