导电粒子检测光学模组
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摘要

本实用新型公开了一种导电粒子检测光学模组,包括蓝色LED光源、光源偏光起偏镜、偏光检偏镜、线扫相机、高度调整滑台、DIC微分干涉插片、激光测距仪和显微物镜,线扫相机通过光学连通导件挂设在高度调整滑台下方,光源偏光起偏镜连接设置在光学连通导件一侧,偏光检偏镜位于光源偏光起偏镜下方,DIC微分干涉插片插设在光学连通导件上部,激光测距仪与高度调整滑台信号连通;测距仪及高度调节滑台配合自动快速对焦,操作简单速度快,多个光路元件及线扫相机配合进行采集便于后续分析,无需肉眼观察判断检测,对眼睛无伤害健康隐患小,检测效率高,劳动强度小,人工成本低,检测准确率高,不易出现误检错检,无需频繁返工再检,满足大批量检测需求。

基本信息
专利标题 :
导电粒子检测光学模组
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201920668975.X
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-05-10
授权号 :
CN210571983U
授权日 :
2020-05-19
发明人 :
蔡章华
申请人 :
厦门柯尔自动化设备有限公司
申请人地址 :
福建省厦门火炬高新区(翔安)产业区翔虹路17号一楼
代理机构 :
北京国坤专利代理事务所(普通合伙)
代理人 :
黄耀钧
优先权 :
CN201920668975.X
主分类号 :
G01N21/84
IPC分类号 :
G01N21/84  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段,即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/84
专用于特殊应用的系统
法律状态
2020-05-19 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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