粒子的自动分析方法和装置
专利权的终止未缴年费专利权终止
摘要
本发明涉及对粒子的粒径分布、它与要求形状的偏离程度以及粒子颜色的自动分析法及其装置。该分析方法包括采集粒子试样、形成单粒子层帷帘、对单粒子层进行光照射、记录分析图象。该分析装置包括取样装置、简仓、记录简仓内粒面高度并向取样装置发信号的粒面高度传感器、简仓底部有垂直伸缩的部件，它与下面振动板的距离为a。
基本信息
专利标题 ：
粒子的自动分析方法和装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN1037212A
申请号 ：
CN88109287.8
公开（公告）日 ：
1989-11-15
申请日 ：
1988-12-17
授权号 ：
CN1019858B
授权日 ：
1992-12-30
发明人 ：
奥德·安德烈斯·阿斯比扬森特耶·于尔根森奥德比扬·艾力克·斯特兰德
申请人 ：
挪威海德罗公司
申请人地址 ：
挪威奥斯陆
代理机构 ：
中国专利代理(香港)有限公司
代理人 ：
杨丽琴
优先权 ：
CN88109287.8
主分类号 ：
G01N15/02
IPC分类号 ：
G01N15/02
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N15/00
测试颗粒的特性；测试多孔材料的渗透性，孔隙体积或者孔隙表面积
G01N15/02
测试颗粒的粒度或粒经分布
法律状态
2005-02-16 ：
专利权的终止未缴年费专利权终止
2002-04-24 ：
其他有关事项
1993-10-06 ：
授权
1992-12-30 ：
审定
1991-03-06 ：
实质审查请求已生效的专利申请
1989-11-15 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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