本公开实施例公开了一种存储器的测试方法及测试装置，所述方法包括：提供一存储器，所述存储器包括多条字线，每一所述字线耦接多个存储区，每一所述存储区包括多个存储块，所述存储块内保存有第一数据；维持每一所述存储区内的至少一个所述存储块内的数据为所述第一数据；在预定时长内关闭所述字线上的供电电压；向所述字线上施加所述供电电压，并向所述存储区内写入第二数据；读取所述存储区内的数据，并进行运算，以获得运算结果；根据所述运算结果，判断所述存储器是否正常。通过上述方法，能够提高存储器的测试效率。