存储器和存储器的测试方法
实质审查的生效
摘要
本发明实施例提供一种存储器和存储器的测试方法，其中，存储器包括：存储模块，用于存储数据信息，存储模块包括主存储模块和校验位存储模块，主存储模块用于存储有效数据，校验位存储模块用于存储校验位数据；读写驱动模块，与存储模块连接，用于从存储模块中读取数据信息，或将数据信息写入存储模块；数据处理模块，与读写驱动模块连接，用于对读写驱动模块输出的数据信息进行检错纠错的解码操作，或用于对输入到读写驱动模块的数据信息进行检错纠错的编码操作，本发明实施例目的在于实现高效测试存储器中用来存储有效数据的存储区域和用来存储ECC校验位数据的存储区域。
基本信息
专利标题 ：
存储器和存储器的测试方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114333965A
申请号 ：
CN202011058602.4
公开（公告）日 ：
2022-04-12
申请日 ：
2020-09-30
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
王佳孙圆圆
申请人 ：
长鑫存储技术有限公司
申请人地址 ：
安徽省合肥市经济技术开发区空港工业园兴业大道388号
代理机构 ：
上海晨皓知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
成丽杰
优先权 ：
CN202011058602.4
主分类号 ：
G11C29/42
IPC分类号 ：
G11C29/42
IPC结构图谱
G
G部——物理
G11
信息存储
G11C
静态存储器
G11C29/00
存储器正确运行的校验；备用或离线操作期间测试存储器
G11C29/04
损坏存储元件的检测或定位
G11C29/08
功能测试，例如，在刷新、通电自检或分布型测试期间的测试
G11C29/12
用于测试的内置装置，例如，内置的自检装置
G11C29/38
响应验证装置
G11C29/42
用纠错码或奇偶校验检查
法律状态
2022-04-29 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G11C 29/42
申请日 : 20200930
申请日 : 20200930
2022-04-12 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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