存储器的测试方法及相关设备

授权

摘要

本公开实施例提供一种存储器的测试方法及装置、电子设备和计算机可读存储介质，涉及半导体器件测试技术领域。该方法包括：获取测试指令；响应于所述测试指令，产生测试时钟信号，并生成待测地址及其待测数据；从存储设备的存储器中确定待测存储器，所述存储设备包括自测电路；将所述待测数据写入所述待测存储器的待测地址所对应的存储单元中；从所述待测存储器的待测地址所对应的存储单元中读取输出数据；比对所述待测数据及其对应待测地址的输出数据，获取所述待测存储器的测试结果。本公开实施例提供的技术方案，利用设置于存储设备内的自测电路来实施存储器的测试过程，可以减轻对自动测试设备的依赖程度，提升测试速度，降低测试成本。

基本信息

专利标题：

存储器的测试方法及相关设备

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

CN113393887A

申请号：

CN202010166581.1

公开（公告）日：

2021-09-14

申请日：

2020-03-11

授权号：

CN113393887B

授权日：

2022-04-12

发明人：

史传奇章恒嘉丁丽

申请人：

长鑫存储技术有限公司

申请人地址：

安徽省合肥市经济技术开发区翠微路6号海恒大厦630室

代理机构：

北京律智知识产权代理有限公司

代理人：

孙宝海

优先权：

CN202010166581.1

主分类号：

G11C29/12

IPC分类号：

G11C29/12