存储设备测试方法、存储设备测试系统及存储介质

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摘要

本发明公开了一种存储设备测试方法、存储设备测试系统及存储介质，该方法应用于存储设备测试系统中，存储设备测试系统包括测试设备及与测试设备连接的连接器，连接器用于连接待测试的多个存储设备，存储设备测试方法包括以下步骤：测试设备的测试程序向连接器发送测试信号，以与测试板上的多个存储设备依次连接进行测试；测试设备的过滤驱动程序监控连接器向测试程序反馈的测试异常信号；当过滤驱动程序监控到连接器反馈的测试异常信号时，跳过测试程序的异常设备处理动作，以转入对下一存储设备进行测试。本发明实现了提高多存储设备的测试效率的目的。

基本信息

专利标题：

存储设备测试方法、存储设备测试系统及存储介质

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

CN109446013A

申请号：

CN201811299520.1

公开（公告）日：

2019-03-08

申请日：

2018-11-01

授权号：

CN109446013B

授权日：

2022-05-24

发明人：

张辉

申请人：

深圳三地一芯电子有限责任公司

申请人地址：

广东省深圳市龙岗区坂田街道环城南路5号坂田国际中心D栋508

代理机构：

深圳市世纪恒程知识产权代理事务所

代理人：

胡海国

优先权：

CN201811299520.1

主分类号：

G06F11/22

IPC分类号：

G06F11/22