本公开提供一种芯片的信号测试方法、系统、设备、存储介质及程序产品，涉及半导体技术领域，用于解决芯片测试效率较低的技术问题，芯片具有多个输入信号，该信号测试方法包括：获取设备芯片的所有输入信号；获得每个设备输入信号的时间参数；将所有设备输入信号的时间参数生成结果表格。通过对芯片的所有输入信号进行获取，并获得各输入信号的时间参数，得到所有输入信号的时间参数的结果表格，实现芯片的输入信号的批量测试，提高电路设计者的设计效率，便于设计测试电路，提高测试效率。