本发明涉及芯片信号质量测试技术领域，公开了一种信号测试方法、装置、设备及可读存储介质。其中，该方法包括：获取待测主控芯片的信号采样参数；调整待测主控芯片的信号采样参数，获取信号采样参数调整后的接收端信号；测试接收端信号对应的信号误码率；基于信号误码率与误码率阈值的关系，评估待测主控芯片的接收端信号质量。通过实施本发明，能够直接获取待测主控芯片接收端信号，摆脱了依靠外部设备获取待测主控芯片内部信号的局限性，同时实现了待测主控芯片接收端信号质量的评估，满足了待测主控芯片的信号完整性测试。