本申请提供了一种DDR信号质量的测试方法、测试装置与测试设备，该方法包括：获取芯片在轻载工作模式下的DDR待测信号的de‑skew值，将所述de‑skew值作为所述DDR待测信号窗口扫描的初始中心值；控制所述de‑skew值以所述初始中心值为中心变化，直至所述芯片无法正常工作，得到窗口边界值；根据所述窗口边界值确定所述DDR待测信号的窗口大小。该方法调整DDR信号的de‑skew值来确定de‑skew值的最大值和最小值，从而得到DDR信号的窗口大小，DDR信号的窗口越大，DDR信号的信号质量越好，无需对信号线刮线、焊接等操作，简化了测试操作，解决现有技术中DDR信号质量测试方法过于复杂的问题。