测试方法、装置及可读存储介质
公开
摘要
本发明涉及测试领域，并且公开了一种测试方法、装置及可读存储介质。其中，该测试方法包括：读取配置文件，所述配置文件包括：测试步骤和测试序列，所述测试序列指示了所述测试步骤的执行顺序；以及根据所述配置文件，按照所述测试序列指示的执行顺序，执行所述测试步骤对应的测试用例，以实现测试。本发明实施例的测试方法，在配置文件而不是程序中定义测试的流程，因此能够十分容易地实现流程的重定义，因此能够提高测试开发的效率。
基本信息
专利标题 ：
测试方法、装置及可读存储介质
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114297051A
申请号 ：
CN202111478655.6
公开（公告）日 ：
2022-04-08
申请日 ：
2021-12-06
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
文华
申请人 ：
上海芯希信息技术有限公司
申请人地址 ：
上海市浦东新区秀浦路2388号10幢3层
代理机构 ：
上海晨皓知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
戴莹瑛
优先权 ：
CN202111478655.6
主分类号 ：
G06F11/36
IPC分类号 ：
G06F11/36 G06F9/445 G06F11/22
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算；推算或计数
G06F
电数字数据处理
G06F11/00
错误检测；错误校正；监控
G06F11/36
通过软件的测试或调试防止错误
法律状态
2022-04-08 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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