测试系统、测试方法以及计算机可读存储介质
公开
摘要

本申请公开了一种测试系统、一种测试系统的测试方法以及计算机可读存储介质。该测试系统包括依次连接的控制端、服务端和测试端;控制端用于获取测试任务,测试任务包括至少一个测试项目,并按顺序下发测试项目至服务端;服务端用于接收测试项目,并将测试项目转发至测试端;测试端用于接收测试项目,根据测试项目的测试步骤,从本地或服务端获取多个测试工具,并利用测试工具且按照测试步骤对测试目标进行测试。通过上述控制方法,既能够提高测试系统的自动化程度,又可以远程控制与监测测试端的整个测试过程。

基本信息
专利标题 :
测试系统、测试方法以及计算机可读存储介质
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114613421A
申请号 :
CN202011443469.4
公开(公告)日 :
2022-06-10
申请日 :
2020-12-08
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
张碧
申请人 :
深圳市江波龙电子股份有限公司
申请人地址 :
广东省深圳市南山区科发路8号金融服务技术创新基地1栋8楼A、B、C、D、E、F1
代理机构 :
深圳市威世博知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
黎坚怡
优先权 :
CN202011443469.4
主分类号 :
G11C29/56
IPC分类号 :
G11C29/56  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G11
信息存储
G11C
静态存储器
G11C29/48
专门适用于从外部到存储器的静态存储中的测试装置,例如:用直接存储器存取或者用辅助访问路径
G11C29/56
用于静态存储器的外部测试装置,例如,自动测试设备;所用接口
法律状态
2022-06-10 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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