DDR信号测试治具及测试方法

实质审查的生效

摘要

本发明涉及DDR信号测试,具体是涉及一种DDR信号测试治具及测试方法。所述DDR信号测试治具包括PCB板、第一底座及第二底座，所述第一底座及第二底座的管脚与待测试DDR芯片对应，第一底座焊接于主板的DDR芯片焊接位置处，所述PCB板的底层焊接于第一底座上并电性连接，所述PCB板的表层上焊接有第二底座并电性连接，待测试DDR芯片装于第二底座上，所述PCB板的表层设置有若干测试孔，所述测试孔与所述DDR芯片引脚一一对应并电性连接。本发明的DDR信号测试治具及测试方法，通过设置第一底座、具有第二底座的PCB板，可使DDR芯片各引脚对应于PCB板上的测试孔，使用示波器直接对PCB板上的测试孔测试即可得出DDR芯片各引脚的测试结果，提高了测试准确性及效率。

基本信息

专利标题：

DDR信号测试治具及测试方法

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

CN114520019A

申请号：

CN202011305888.1

公开（公告）日：

2022-05-20

申请日：

2020-11-20

授权号：

暂无

授权日：

暂无

发明人：

杨红光

申请人：

神讯电脑（昆山）有限公司

申请人地址：

江苏省苏州市昆山市综合保税区第二大道269号

代理机构：

代理人：

优先权：

CN202011305888.1

主分类号：

G11C29/56

IPC分类号：

G11C29/56

IPC结构图谱

G部——物理

G11

信息存储

G11C

静态存储器

G11C29/48

专门适用于从外部到存储器的静态存储中的测试装置，例如：用直接存储器存取或者用辅助访问路径

G11C29/56

用于静态存储器的外部测试装置，例如，自动测试设备；所用接口

法律状态

2022-06-07 ：

实质审查的生效

IPC(主分类) : G11C 29/56
申请日 : 20201120

2022-05-20 ：

公开

注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。

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