本发明涉及一种测试设备及测试治具。测试治具包括治具本体、测试探针、固定板及用于放置电路板的定位件。治具本体设有安装部，测试探针设于安装部。定位件固定于固定板，并活动地穿设于治具本体，使治具本体能够相对固定板运动。电路板测试时，固定板连接于测试设备本体，并将电路板放置于定位件上，使固定板及电路板相对测试设备本体保持不动。若治具本体与电路板的位置出现偏差，固定板及电路板保持不动，带动测试探针及治具本体整体进行微调。如此，能够避免测试探针的弯曲变形，从而有效延长测试探针的使用寿命，并且使得该测试治具的稳定性更高。此外，通过微调装置对测试治具进行微调，无需使用传统的微调框，使得该测试治具的安装更方便。