测试装置及测试方法
专利权的终止
摘要

本发明是提供一种测试装置,该测试装置包含指令执行部,其依次执行测试程序中所含有的指令;既定图像存储器,其相应于既定图像识别信息存储既定图像列;测试图像存储器,其相应于各指令,存储对指令循环期间中所输出的测试图像列或者此指令循环期间中所输出的既定图像列加以识别的既定图像识别信息;测试图像存储器读取部,其读取相应于一个指令而存储在测试图像存储器中的测试图像列或者既定图像识别信息;既定图像读取部,其在读取既定图像识别信息后,读取相应于此既定图像识别信息的既定图像列;测试图像输出部,其在指令循环期间中,将测试图像存储器读取部所读取的测试图像列或者既定图像读取部所读取的既定图像列输出到待测设备的端子中。

基本信息
专利标题 :
测试装置及测试方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN1808160A
申请号 :
CN200510125937.2
公开(公告)日 :
2006-07-26
申请日 :
2005-11-28
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
小林信一
申请人 :
爱德万测试株式会社
申请人地址 :
日本东京
代理机构 :
北京中原华和知识产权代理有限责任公司
代理人 :
寿宁
优先权 :
CN200510125937.2
主分类号 :
G01R31/3183
IPC分类号 :
G01R31/3183  G06F11/00  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/3183
••••测试输入量的产生,例如测量矢量、图形或顺序
法律状态
2015-01-07 :
专利权的终止
未缴年费专利权终止号牌文件类型代码 : 1605
号牌文件序号 : 101594993737
IPC(主分类) : G01R 31/3183
专利号 : ZL2005101259372
申请日 : 20051128
授权公告日 : 20100120
终止日期 : 20131128
2010-01-20 :
授权
2008-02-06 :
实质审查的生效
2006-07-26 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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