信号测试方法、装置、片上系统、电子设备及存储介质
实质审查的生效
摘要

本说明书提供了一种信号测试方法、装置、片上系统、电子设备及存储介质,其中,所述信号测试方法在PCIe总线系统物理层的目标缓存区域中,基于经过所述物理层处理前后的待测试信号(即第一信号和第二信号),获取表征所述待测试信号质量的测试信息,实现在PCIe总线系统内部对待测试信号质量进行测试的目的。利用本说明书提供的信号测试方法进行信号质量测试,一方面不会妨碍待测试信号正常通过物理层,无需因为信号测试而中断正常信号传输,有利于提高测试和使用效率,为实现实时的信号测试奠定了基础。另一方面,由于该方法无需外接测试设备,简化了信号测试步骤,提高了测试效率,而且有利于降低信号测试所需的硬件成本。

基本信息
专利标题 :
信号测试方法、装置、片上系统、电子设备及存储介质
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114443400A
申请号 :
CN202210375705.6
公开(公告)日 :
2022-05-06
申请日 :
2022-04-11
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
杨培宇杜艳王兴珍王家兴陈才
申请人 :
飞腾信息技术有限公司
申请人地址 :
天津市滨海新区海洋高新技术开发区信安创业广场5号楼
代理机构 :
北京布瑞知识产权代理有限公司
代理人 :
骆宗力
优先权 :
CN202210375705.6
主分类号 :
G06F11/22
IPC分类号 :
G06F11/22  G06F11/263  G06F13/40  G06F13/42  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算;推算或计数
G06F
电数字数据处理
G06F11/00
错误检测;错误校正;监控
G06F11/22
在准备运算或者在空闲时间期间内,通过测试作故障硬件的检测或定位
法律状态
2022-05-24 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G06F 11/22
申请日 : 20220411
2022-05-06 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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