存储器地址测试电路、方法、存储器与电子设备

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摘要

本公开提供一种存储器地址测试电路、方法、存储器与电子设备。存储器地址测试方法包括：对待测存储器输入地址测试指令，所述地址测试指令用于对所述待测存储器的目标存储单元进行读或写操作，所述地址测试指令至少包括所述目标存储单元的逻辑地址的第一地址信息；读取所述第一锁存器的输出端以得到第二地址信息；根据所述第二地址信息以及所述待测存储器的行译码逻辑获取第三地址信息；记录所述第一地址信息与所述第三地址信息的对应关系。本公开实施例可以自动获取软件代码地址、处理器输出的逻辑地址与存储器中存储单元物理地址之间的映射关系，提高存储器测试效率。

基本信息

专利标题：

存储器地址测试电路、方法、存储器与电子设备

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

CN112992251A

申请号：

CN202110383149.2

公开（公告）日：

2021-06-18

申请日：

2021-04-09

授权号：

CN112992251B

授权日：

2022-05-17

发明人：

曹洪坤

申请人：

长鑫存储技术有限公司

申请人地址：

安徽省合肥市经济技术开发区空港工业园兴业大道388号

代理机构：

北京律智知识产权代理有限公司

代理人：

孙宝海

优先权：

CN202110383149.2

主分类号：

G11C29/12

IPC分类号：

G11C29/12 G11C29/18