存储器单粒子测试板及系统
授权
摘要
本实用新型公开了一种存储器单粒子测试板及系统，其中存储器单粒子测试板包括测试子板及测试母板。测试子板包括第一连接器，第一连接器与开封后的存储器电性连接。测试母板包括FPGA芯片、电源及第二连接器，第二连接器与第一连接器匹配，FPGA芯片及电源与第二连接器电性连接，电源与FPGA芯片电性连接，FPGA芯片及电源可以通过第二连接器及第一连接器与存储器电性连接。根据上述技术方案的存储器单粒子测试板，利用FPGA芯片的可编程及可重复配置的特点，可以适应不同型号及不同位宽的存储器，同时还可以简化电路结构，降低电路板尺寸，降低开发成本，易于满足实验室要求。
基本信息
专利标题 ：
存储器单粒子测试板及系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202021835690.X
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-08-28
授权号 ：
CN213583124U
授权日 ：
2021-06-29
发明人 ：
颜军陈像颜志宇龚永红王烈洋占连样蒲光明陈伙立骆征兵
申请人 ：
珠海欧比特宇航科技股份有限公司
申请人地址 ：
广东省珠海市唐家东岸白沙路1号欧比特科技园
代理机构 ：
广州嘉权专利商标事务所有限公司
代理人 ：
郑晨鸣
优先权 ：
CN202021835690.X
主分类号 ：
G11C29/56
IPC分类号 ：
G11C29/56
IPC结构图谱
G
G部——物理
G11
信息存储
G11C
静态存储器
G11C29/48
专门适用于从外部到存储器的静态存储中的测试装置，例如：用直接存储器存取或者用辅助访问路径
G11C29/56
用于静态存储器的外部测试装置，例如，自动测试设备；所用接口
法律状态
2021-06-29 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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