一种逻辑内建自测试的复位电路测试系统及方法
实质审查的生效
摘要

一种逻辑内建自测试的复位电路测试系统,包括,测试向量生成器、逻辑内建自测试控制器,以及测试响应分析器,其中,所述测试向量生成器,其生成复位测试向量和伪随机测试向量,接受所示逻辑内建自测试控制器的指令,将复位信号、时钟信号、扫描使能信号和扫描向量输出信号输出给待测电路;所述逻辑内建自测试控制器,其分别控制所述测试向量生成器的信号的输出和控制所述测试响应分析器对待测电路进行测试;所述测试响应分析器,其接受所述逻辑内建自测试控制器的指令,对待测电路进行测试。本发明还提供一种逻辑内建自测试的复位电路测试方法,利用较少逻辑,解决了传统逻辑内建自测试中复位信号无法高度覆盖的问题,提高故障覆盖率。

基本信息
专利标题 :
一种逻辑内建自测试的复位电路测试系统及方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114360622A
申请号 :
CN202210254392.9
公开(公告)日 :
2022-04-15
申请日 :
2022-03-16
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
谭腾飞纪璐璐
申请人 :
南京芯驰半导体科技有限公司
申请人地址 :
江苏省南京市江北新区研创园团结路99号孵鹰大厦2268室
代理机构 :
北京德崇智捷知识产权代理有限公司
代理人 :
王金双
优先权 :
CN202210254392.9
主分类号 :
G11C29/12
IPC分类号 :
G11C29/12  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G11
信息存储
G11C
静态存储器
G11C29/00
存储器正确运行的校验;备用或离线操作期间测试存储器
G11C29/04
损坏存储元件的检测或定位
G11C29/08
功能测试,例如,在刷新、通电自检或分布型测试期间的测试
G11C29/12
用于测试的内置装置,例如,内置的自检装置
法律状态
2022-05-03 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G11C 29/12
申请日 : 20220316
2022-04-15 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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