用于电子电路的内建自测试的系统和方法
授权
摘要
在具有内建自测试的设备(305)的所述示例中，多路复用器(315)至少具有第一输入端子和第二输入端子并且其经耦合以在第一输入端子处接收第一输入信号(A)，在第二输入端子处接收第二输入信号(B)以及接收选择信号(S1，S2)。此外，多路复用器(315)经耦合以：响应于选择信号(S1，S2)的第一组合输出(C)第一输入信号(A)；响应于选择信号(S1，S2)的第二组合输出(C)第二输入信号(B)；以及响应于选择信号(S1，S2)的第三组合输出(C)第一输入信号和第二输入信号(A，B)的模拟求和。
基本信息
专利标题 ：
用于电子电路的内建自测试的系统和方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN109477868A
申请号 ：
CN201780043151.7
公开（公告）日 ：
2019-03-15
申请日 ：
2017-07-17
授权号 ：
CN109477868B
授权日 ：
2022-04-05
发明人 ：
R·F·佩恩L·J·赫勒曼
申请人 ：
德克萨斯仪器股份有限公司
申请人地址 ：
美国德克萨斯州
代理机构 ：
北京纪凯知识产权代理有限公司
代理人 ：
赵志刚
优先权 ：
CN201780043151.7
主分类号 ：
G01R31/28
IPC分类号 ：
G01R31/28 G06F11/30
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试，例如用信号故障寻测器
法律状态
2022-04-05 ：
授权
2019-07-19 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01R 31/28
申请日 : 20170717
申请日 : 20170717
2019-03-15 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载
