锁存器的自测试电路及其自测试方法
实质审查的生效
摘要
公开了一种锁存器的自测试电路及其自测试方法。自测试电路包括自测试主控单元和自测试模块。自测试主控单元包括：自测试模块使能逻辑电路，用于产生自测试模块的使能信号；自测试模块测试向量产生电路，用于产生自测试模块的测试向量；存储单元，用于存储自测试模块的测试结果。自测试模块被配置为：根据使能信号选择锁存器自测试子模块进入自测试模式；当被选择进行自测试的锁存器自测试子模块的锁存器输出与测试向量相同时，测试结果为该锁存器自测试子模块的锁存器无故障，否则有故障。本公开的方案实现了采用较少的数字集成测试电路有效提高锁存器的测试覆盖率，解决了锁存器测试的难题。
基本信息
专利标题 ：
锁存器的自测试电路及其自测试方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114460447A
申请号 ：
CN202110071284.3
公开（公告）日 ：
2022-05-10
申请日 ：
2021-01-19
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
李颖
申请人 ：
沐曦集成电路(上海)有限公司
申请人地址 ：
上海市浦东新区祥科路111号2幢6楼
代理机构 ：
北京华睿卓成知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
彭武
优先权 ：
CN202110071284.3
主分类号 ：
G01R31/317
IPC分类号 ：
G01R31/317
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/317
••数字电路的测试
法律状态
2022-05-27 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01R 31/317
申请日 : 20210119
申请日 : 20210119
2022-05-10 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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