一种内建自测试电路及存储器
授权
摘要
本发明公开了一种内建自测试电路及存储器。该内建自测试电路，包括：数字压控振荡器，用于生成高频时钟信号；时钟信号控制模块，用于在高速测试时，将高频时钟信号输入地址输入通道、数据输入通道、输出通道和被测设备；地址输入通道，用于根据时钟信号控制模块输入的时钟信号，将测试地址信号输入被测设备；数据输入通道，用于根据时钟信号控制模块输入的时钟信号，将测试数据信号输入被测设备；输出通道，用于接收并输出被测试设备的输出信号。内建自测试电路中集成了数字压控振荡器，为测试提供高频时钟信号，降低了对测试机台提供的测试时钟的频率要求，简化了外围设备，缩短了测试时间，降低了测试成本。
基本信息
专利标题 ：
一种内建自测试电路及存储器
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN111354412A
申请号 ：
CN201811564993.X
公开（公告）日 ：
2020-06-30
申请日 ：
2018-12-20
授权号 ：
CN111354412B
授权日 ：
2022-04-19
发明人 ：
陈巍巍陈岚尤云霞秦毅
申请人 ：
中国科学院微电子研究所
申请人地址 ：
北京市朝阳区北土城西路3号中国科学院微电子研究所
代理机构 ：
北京集佳知识产权代理有限公司
代理人 ：
王宝筠
优先权 ：
CN201811564993.X
主分类号 ：
G11C29/12
IPC分类号 ：
G11C29/12
IPC结构图谱
G
G部——物理
G11
信息存储
G11C
静态存储器
G11C29/00
存储器正确运行的校验；备用或离线操作期间测试存储器
G11C29/04
损坏存储元件的检测或定位
G11C29/08
功能测试，例如，在刷新、通电自检或分布型测试期间的测试
G11C29/12
用于测试的内置装置，例如，内置的自检装置
法律状态
2022-04-19 ：
授权
2020-07-24 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G11C 29/12
申请日 : 20181220
申请日 : 20181220
2020-06-30 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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