为存储器内建自测试提供灵活模块冗余分配的方法和设备
专利权的终止
摘要

一种为冗余随机存取存储器的存储器内建自测试提供灵活的模块冗余分配的方法和设备。所述设备包括第一冗余支持寄存器,所述第一冗余支持寄存器包括接收测试中的存储器中的单元的地址和与必须修复修理元件相关的数据的输入端。所述地址包括所述单元的行向量和列向量。第一冗余支持寄存器还包括传送所述地址和数据的输出端。所述设备还包括第二冗余支持寄存器,所述第二冗余支持寄存器包括从第一冗余支持寄存器的输出端接收所述地址和数据的输入端。第二冗余支持寄存器的每个输入端与第一冗余支持寄存器的每个输出端一一对应。所述设备还包括提供第一冗余支持寄存器和第二冗余支持寄存器的模块化实现的分配逻辑装置。

基本信息
专利标题 :
为存储器内建自测试提供灵活模块冗余分配的方法和设备
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN1819062A
申请号 :
CN200610006820.7
公开(公告)日 :
2006-08-16
申请日 :
2006-02-07
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
汤姆·Y.·张威廉·V.·霍特托马斯·J.·尼普斯多纳德·W.·普拉斯
申请人 :
国际商业机器公司
申请人地址 :
美国纽约
代理机构 :
中国国际贸易促进委员会专利商标事务所
代理人 :
康建忠
优先权 :
CN200610006820.7
主分类号 :
G11C29/24
IPC分类号 :
G11C29/24  G11C29/44  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G11
信息存储
G11C
静态存储器
G11C29/00
存储器正确运行的校验;备用或离线操作期间测试存储器
G11C29/04
损坏存储元件的检测或定位
G11C29/08
功能测试,例如,在刷新、通电自检或分布型测试期间的测试
G11C29/12
用于测试的内置装置,例如,内置的自检装置
G11C29/18
地址形成装置;访问内存装置,例如,寻址电路的零部件
G11C29/24
访问额外单元,例如,虚拟单元或冗余单元
法律状态
2013-03-27 :
专利权的终止
未缴年费专利权终止号牌文件类型代码 : 1605
号牌文件序号 : 101426319179
IPC(主分类) : G11C 29/24
专利号 : ZL2006100068207
申请日 : 20060207
授权公告日 : 20100901
终止日期 : 20120207
2010-09-01 :
授权
2006-10-11 :
实质审查的生效
2006-08-16 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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