有自测试能力的超大规模集成电路
被视为撤回的申请
摘要
一种自测试超大规模集成电路包括完成超大规模集成电路器件基本功能的功能块。具有内部图形发生器以便在测试控制器的控制下产生预定的图形。测试控制器响应通过接口电路从外部控制总线接收的外部信号执行预定测试程序。功能块的输出被输入到识别电路将其输出与预定的测试标准相比较。测试控制器测出识别电路的输出且如果在被处理的测试图形数据及预定的测试标准之间未能进行有效比较，则在测试程序末尾产生故障信号。
基本信息
专利标题 ：
有自测试能力的超大规模集成电路
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN85108326A
申请号 ：
CN85108326
公开（公告）日 ：
1986-12-03
申请日 ：
1985-11-11
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
科克·D·胡罗伯特·W·布卢默西奥·J·鲍威尔萨蒂西·M·撒特
申请人 ：
得克萨斯仪器公司
申请人地址 ：
美国得克萨斯州75265达拉斯市北中埃克斯普勒斯韦路13500号
代理机构 ：
上海专利事务所
代理人 ：
颜承根
优先权 ：
CN85108326
主分类号 ：
H01L27/00
IPC分类号 ：
H01L27/00 H01L21/66 G01R31/28
IPC结构图谱
H
H部——电学
H01
基本电气元件
H01L
半导体器件；其他类目中不包括的电固体器件
H01L27/00
由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
法律状态
1988-06-01 ：
被视为撤回的申请
1986-12-03 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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