一种FPGA嵌入式块存储器的性能测试方法

授权

摘要

本发明涉及一种FPGA嵌入式块存储器的性能测试方法，包括如下步骤：（1）嵌入式块存储器功能设计；（2）伪随机序列测试向量设计；（3）读写使能、读写地址与读写时钟设计；（4）RTL级行为仿真；（5）测试结果分析。本发明提供的FPGA嵌入式块存储器的性能测试方法，实施步骤简单，可移植性强，具有一定的工程应用价值。

基本信息

专利标题：

一种FPGA嵌入式块存储器的性能测试方法

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

CN109376049A

申请号：

CN201811614983.2

公开（公告）日：

2019-02-22

申请日：

2018-12-27

授权号：

CN109376049B

授权日：

2022-04-01

发明人：

孙嘉斌贾一平周丽萍陈倩胡凯孙晓哲

申请人：

南京胜跃新材料科技有限公司

申请人地址：

江苏省南京市江宁区东山国际企业研发园东麒路33号

代理机构：

南京中高专利代理有限公司

代理人：

李晓

优先权：

CN201811614983.2

主分类号：

G06F11/26

IPC分类号：

G06F11/26

IPC结构图谱

G部——物理

G06

计算；推算或计数

G06F

电数字数据处理

G06F11/00

错误检测；错误校正；监控

G06F11/22

在准备运算或者在空闲时间期间内，通过测试作故障硬件的检测或定位

G06F11/26

功能检验

法律状态

2022-04-01 ：

授权

2022-03-25 ：

专利申请权、专利权的转移

专利申请权的转移IPC(主分类) : G06F 11/26
登记生效日 : 20220315
变更事项 : 申请人
变更前权利人 : 南京胜跃新材料科技有限公司
变更后权利人 : 山东泉景胜跃信息技术有限公司
变更事项 : 地址
变更前权利人 : 211103 江苏省南京市江宁区东山国际企业研发园东麒路33号
变更后权利人 : 250000 山东省济南市历下区泉城路277号泰府广场2-110

2019-03-19 ：

实质审查的生效

IPC(主分类) : G06F 11/26
申请日 : 20181227

2019-02-22 ：

公开

注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。

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