基于STIL技术的芯片自动测试方法、系统及装置
实质审查的生效
摘要
本发明公开了一种基于STIL技术的芯片自动测试方法、系统及装置，所述方法包括：若接收到数据加载指令，获取待测数据并解析，生成基于STIL标准的第一测试数据；对所述第一测试数据进行解析，生成第二测试数据；若接收到测试执行指令，根据所述第二测试数据进行测试，得到测试结果；若接收到数据分析指令，对所述测试结果进行处理，生成基于STDF标准的第三测试数据。本发明可实现芯片测试统一标准。
基本信息
专利标题 ：
基于STIL技术的芯片自动测试方法、系统及装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114325330A
申请号 ：
CN202111651110.0
公开（公告）日 ：
2022-04-12
申请日 ：
2021-12-30
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
任朝旭路林海韩惠婕李立佳张俊霞秦留洋
申请人 ：
北京航天测控技术有限公司
申请人地址 ：
北京市石景山区实兴东街3号1-8号楼
代理机构 ：
北京华夏泰和知识产权代理有限公司
代理人 ：
张亚辉
优先权 ：
CN202111651110.0
主分类号 ：
G01R31/28
IPC分类号 ：
G01R31/28 G01R31/3183
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试，例如用信号故障寻测器
法律状态
2022-04-29 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01R 31/28
申请日 : 20211230
申请日 : 20211230
2022-04-12 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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