ASIC器件的自动测试技术
专利权的终止
摘要
一种ASIC器件的自动测试技术包括：重组S10大规模集成电路测试系统、PC机、仿真器，S10大规模集成电路测试系统和PC机、PC机和仿真器之间用RS232连接，在PC机中使用逻辑描述生成测试程序，或使用设计源文件生成测试程序，或使用金器件生成测试程序，PC机和S10大规模集成电路测试系统自动切换，在大规模集成电路测试系统上自动编译，加载测试。其优点是：避免了对ASIC器件不同的型号器件要编不同的程序软件，只要利用设计文件，或逻辑描述，或金器件就可以得到测试程序，既提高效率，又节省了大量的人力、物力。
基本信息
专利标题 ：
ASIC器件的自动测试技术
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN1967274A
申请号 ：
CN200510019839.0
公开（公告）日 ：
2007-05-23
申请日 ：
2005-11-18
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
沈森祖石坚夏强民吴丹
申请人 ：
中国船舶重工集团公司七○九研究所
申请人地址 ：
430074湖北省武汉市洪山区珞瑜路718号
代理机构 ：
武汉金堂专利事务所
代理人 ：
胡清堂
优先权 ：
CN200510019839.0
主分类号 ：
G01R31/28
IPC分类号 ：
G01R31/28 G01R31/3183
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试，例如用信号故障寻测器
法律状态
2018-01-05 ：
专利权的终止
未缴年费专利权终止IPC(主分类) : G01R 31/28
申请日 : 20051118
授权公告日 : 20090408
终止日期 : 20161118
申请日 : 20051118
授权公告日 : 20090408
终止日期 : 20161118
2009-04-08 ：
授权
2007-07-18 ：
实质审查的生效
2007-05-23 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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