一种电子元器件自动测试装置
专利权的终止
摘要
本实用新型公开了一种自动化程度高、效率高、结构紧凑的电子元器件自动测试装置。本实用新型包括上料位(15)、下料位(21)、测试位、坏品处理位(17)、待测品盘(11)、转盘体(31)，所述上料位(15)将待测品盘(11)中的待测品转移到转盘体(31)的测试夹具(13)上，测试转盘作圆周运动，当测试夹具(13)上的产品转到测试位的对应位置，接受测试位的测试，再转到坏品处理位(17)的对应位置，如测试出该产品为坏品，则由坏品处理位(17)将其转移到坏品回收盒(22)，经过测试的合格产品转至下料位(21)的对应位置，由下料位(21)将其提取。本实用新型可广泛应用于电子元器件测试领域。
基本信息
专利标题 ：
一种电子元器件自动测试装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN200820051519.2
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2008-07-30
授权号 ：
CN201237623Y
授权日 ：
2009-05-13
发明人 ：
吴启权曹勇祥
申请人 ：
珠海市运泰利自动化设备有限公司
申请人地址 ：
519000广东省珠海市斗门区新青科技工业园新青三路洋青路1栋珠海市运泰利自动化设备有限公司
代理机构 ：
广州市红荔专利代理有限公司
代理人 ：
李彦孚
优先权 ：
CN200820051519.2
主分类号 ：
G01R31/00
IPC分类号 ：
G01R31/00 B07C5/344
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置；在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66；线路传输系统的测试入H04B3/46）
法律状态
2012-10-03 ：
专利权的终止
未缴年费专利权终止号牌文件类型代码 : 1605
号牌文件序号 : 101331914091
IPC(主分类) : G01R 31/00
专利号 : ZL2008200515192
申请日 : 20080730
授权公告日 : 20090513
终止日期 : 20110730
号牌文件序号 : 101331914091
IPC(主分类) : G01R 31/00
专利号 : ZL2008200515192
申请日 : 20080730
授权公告日 : 20090513
终止日期 : 20110730
2009-05-13 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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