自动测试方法、自动测试系统、电子设备及可读存储介质
公开
摘要
本发明实施例涉及仿真测试技术领域，公开了一种自动测试方法、自动测试系统、电子设备及可读存储介质。本发明中，自动测试方法包括：获取用户填写的xml格式的测试用例模板；根据所述测试用例模板，生成测试脚本；将所述测试脚本分发给目标机，以实现所述飞控计算机的自动测试。本发明提供的自动测试方法、自动测试系统、电子设备及可读存储介质，能够实现快速有效的开发测试用例，减轻测试人员负担，降低飞控计算机仿真测试的人力成本。
基本信息
专利标题 ：
自动测试方法、自动测试系统、电子设备及可读存储介质
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114297065A
申请号 ：
CN202111630828.1
公开（公告）日 ：
2022-04-08
申请日 ：
2021-12-28
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
不公告发明人
申请人 ：
上海科梁信息科技股份有限公司
申请人地址 ：
上海市徐汇区宜山路829号6幢201室
代理机构 ：
上海晨皓知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
成丽杰
优先权 ：
CN202111630828.1
主分类号 ：
G06F11/36
IPC分类号 ：
G06F11/36
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算；推算或计数
G06F
电数字数据处理
G06F11/00
错误检测；错误校正；监控
G06F11/36
通过软件的测试或调试防止错误
法律状态
2022-04-08 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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