自动测试平台系统、装置以及方法
实质审查的生效
摘要

本发明属于自动测试平台技术领域,公开了一种技术方案:自动测试平台系统,包括,测试设备、测试产品、自动测试单元、PC端;所述测试设备与自动测试单元相连接,所述自动测试单元与测试产品相连接,所述自动测试单元与PC端相连接;所述自动测试单元用于对测试产品进行数据测试,其中包括连接模块、自动测试模块、预警模块,连接模块包括至少一个连接口,用于将多个测试设备通过线路与连接口相连接;需要测试产品可通过自动测试平台与多个测试设备相连接,测试产品只需与自动测试平台相连接,接着将需要测试数据的多个测试设备也与自动平台相连接,即可在短时间内对测试产品进行全方位测试,整个测试过程非常简单。

基本信息
专利标题 :
自动测试平台系统、装置以及方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114414932A
申请号 :
CN202111569259.4
公开(公告)日 :
2022-04-29
申请日 :
2021-12-21
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
王明焦剑晖
申请人 :
石家庄宇讯电子有限公司
申请人地址 :
河北省石家庄市新石北路380号卓达院士大厦2层
代理机构 :
深圳泛航知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
张智轶
优先权 :
CN202111569259.4
主分类号 :
G01R31/01
IPC分类号 :
G01R31/01  G01R23/16  G01R23/20  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置;电故障的探测装置;以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置;在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66;线路传输系统的测试入H04B3/46)
G01R31/01
对相似的物品依次进行测试,例如在成批生产中的“过端—不过端”测试;当物体通过测试台时对物体进行测试
法律状态
2022-05-20 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01R 31/01
申请日 : 20211221
2022-04-29 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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