半导体存储器件应力状态的自动测试设备
专利申请的视为撤回
摘要
一种高集成度的半导体存储器件，配备有一个无需从外部加应力电压就可设定应力测试状态的设备。当外电源电压提高得超过应力电压时，大幅度提高内电源电压就可设定应力状态的触发时刻Ts。
基本信息
专利标题 ：
半导体存储器件应力状态的自动测试设备
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN1069821A
申请号 ：
CN92100721.3
公开（公告）日 ：
1993-03-10
申请日 ：
1992-01-31
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
韩真晚李钟勋
申请人 ：
三星电子株式会社
申请人地址 ：
韩国京畿道水原市
代理机构 ：
中国专利代理(香港)有限公司
代理人 ：
肖掬昌
优先权 ：
CN92100721.3
主分类号 ：
G11C11/34
IPC分类号 ：
G11C11/34 G01L1/16
IPC结构图谱
G
G部——物理
G11
信息存储
G11C
静态存储器
G11C11/08
应用多孔存储元件的，例如：应用多孔磁芯存储器；应用把几个单独的多孔存储元件合并起来的板
G11C11/21
应用电元件的
G11C11/34
应用半导体器件的
法律状态
1995-11-22 ：
专利申请的视为撤回
1994-11-09 ：
实质审查请求的生效
1993-03-10 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载
