一种便于集成电路自动测试装置
授权
摘要
本实用新型公开了一种便于集成电路自动测试装置,属于集成检测技术领域,包括底座,所述底座上方安装有箱体,所述底座内部安装有滑槽。使用时,先拉动L型固定杆在滑槽上移动来带动支撑杆移动,然后把箱体放到底座上,接着推动支撑杆到合适位置后,接着通过转动旋转轴带动卡杆卡主底座一侧,然后通过转动螺纹杆在螺纹槽内侧壁上移动来顶住箱体,接着通过转动螺帽对螺纹杆进行固定,当机器长时间使用时,内部温度会慢慢变高,过高温度会导致机器内部零部件造成损坏,维修麻烦,成本高,当温度过高时,电机带动转动轴转动,转动轴带动转动杆转动,转动杆带动扇叶转动,扇叶转动对箱体内部吹风和通过散热窗与外界空气换气,加快散热效果。
基本信息
专利标题 :
一种便于集成电路自动测试装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202022120250.2
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-09-24
授权号 :
CN212845785U
授权日 :
2021-03-30
发明人 :
夏宇
申请人 :
泓准达电子科技(常州)有限公司
申请人地址 :
江苏省常州市武进国家高新技术产业开发区西湖路8号津通国际工业园1号楼C区
代理机构 :
北京盛凡智荣知识产权代理有限公司
代理人 :
尚欣
优先权 :
CN202022120250.2
主分类号 :
G01R31/28
IPC分类号 :
G01R31/28 G01R1/04
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试,例如用信号故障寻测器
法律状态
2021-03-30 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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